Laboratorio "Arvedi" di diagnostica e conservazione di supporti lignei, manufatti policromi e strumenti musicali
Via Ferrata, 1 – 27100 Pavia (Dove siamo).
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Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo FE-SEM
Il Laboratorio di Microscopia Elettronica a Scansione è equipaggiato con un moderno FE-SEM ad alta risoluzione della serie Tescan Mira3 XMU, in grado di produrre imaging di altissima qualità con ingrandimenti sino a 900 K×. Vengono inoltre effettuate microanalisi semi-quantitative della composizione, mappature e analisi della struttura cristallografica.
Imaging ad alta risoluzione
La sorgente a emissione di campo consente prestazioni molto più elevate rispetto a quanto ottenuto con le più comuni sorgenti a filamento. In modalità In-Beam è possibile raggiungere risoluzioni dell’ordine del nanometro, utili per la caratterizzazione nanostrutturale di materiali ceramici, metallici, compositi. Ottima applicazione anche per l'analisi di polimeri, principi attivi, materiali organici e biologici. Grazie al controllo della morfologia di materie prime, intermedi e prodotti lavorati, il SEM riveste un ruolo fondamentale nella failure analysis dei processi produttivi.
Micronalisi EDSLa tecnica EDS (Energy dispersion spectroscopy) sfrutta i raggi X emessi dal campione colpito dal fascio di elettroni e rende possibile ottenere un’analisi semi-quantitativa della composizione chimica del campione.
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MappatureÈ possibile mappare la distribuzione degli atomi presenti nel campione, ottenendo immagini in falsi colori con scale di intensità relazionate al contenuto dell’atomo di interesse.
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EBSDLe analisi EBSD (Electron backscatter diffraction) forniscono mappature microstrutturali-cristallografiche, visualizzando i bordi grano dei materiali e l’orientazione della struttura cristallina. Utile per studiare difetti, fasi e interfacce. |
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Controlli non distruttivi - basso vuotoRecentemente è stata messa a punto la metodologia di analisi in basso vuoto, che presenta numerosi vantaggi. Non è necessario metallizzare il campione, pertanto l'analisi non altera il campione stesso, rendendolo riutilizzabile per caratterizzazioni con altri strumenti. Questa particolarità rende questo tipo di analisi particolarmente adatto a campioni preziosi. E' inoltre indicato per campioni sensibili all'alto vuoto. L'osservazione è ottimale a bassi ingrandimenti. In quanto a bontà delle immagini e ingrandimenti, l'analisi in BSE di materiali eterogenei è del tutto analoga a quella svolta in alto vuoto, con il grande vantaggio aggiunto di non creare fratture nei materiali organici che reagiscono in condizioni di alto vuoto, come ad esempio il legno. |
Metallizzatrici ed evaporatori di carbonio
Prima dell'osservazione al SEM è possibile rendere conduttivi i campioni con le strumentazioni per il coating ad alta risoluzione della Cressington. Sono presenti una Sputter Coater 208HR (per platino, cromo, oro e altri metalli ad elevata purezza) e una Carbon Coater 208carbon (per carbonio). L'alta risoluzione consente coperture di pochi nanometri di spessore, ma questo può essere aumentato a piacimento impostando il timer. Il coating può essere utilizzato per tutte le problematiche in cui serva ricoprire i campioni o parte di essi con film sottili di materiali conduttivi.
Microscopio UV e stereomicroscopio
Presso il laboratorio sono presenti un microscopio UV Olympus BX51 (con fotocamera digitale Olympus UC30) e uno stereomicroscopio Olympus Sz61 (con fotocamera digitale Infinity1), con i quali è possibile osservare e fotografare i campioni, effettuando l'osservazione anche in fluorescenza.