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Diagnostica e conservazione di supporti lignei, manufatti policromi e strumenti musicali


 

Strumentazioni

 

 

Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo FE-SEM

Il Laboratorio di Microscopia Elettronica a Scansione è equipaggiato con un moderno FE-SEM ad alta risoluzione della serie Tescan Mira3 XMU, in grado di produrre imaging di altissima qualità con ingrandimenti sino a 700 K×. Vengono inoltre effettuate microanalisi semi-quantitative della composizione, mappature e analisi della struttura cristallografica.

 

   

 

Imaging ad alta risoluzione

La sorgente a emissione di campo consente prestazioni molto più elevate rispetto a quanto ottenuto con le più comuni sorgenti a filamento. In modalità In-Beam è possibile raggiungere risoluzioni dell’ordine del nanometro, utili per la caratterizzazione nanostrutturale di materiali ceramici, metallici, compositi.

 

Micronalisi EDS

La tecnica EDS (Energy dispersion spectroscopy) sfrutta i raggi X emessi dal campione colpito dal fascio di elettroni e rende possibile ottenere un’analisi semi-quantitativa della composizione chimica del campione.

 

Mappature

È possibile mappare la distribuzione degli atomi presenti nel campione, ottenendo immagini in falsi colori con scale di intensità relazionate al contenuto dell’atomo di interesse.

 

EBSD

Le analisi EBSD (Electron backscatter diffraction) forniscono mappature microstrutturali- cristallografiche, visualizzando i bordi grano dei materiali e l’orientazione della struttura cristallina. Utile per studiare difetti, fasi e interfacce.

 


      

 

Microscopio FT-IR

Il Laboratorio di Microscopia FT-IR è equipaggiato con un microscopio Nicolet iN10 MX della Thermo Scientific, particolarmente indicato quando si vogliano acquisire spettri FT-IR con localizzazione spaziale microscopica o senza preparazione del campione. Lo strumento è in grado di produrre analisi composizionali con una risoluzione che può scendere sino a 10-20 μm2.

 

Analisi in modalità ATR (Attenuated Total Reflectance)

Sfrutta la riflessione interna a una punta ad alto indice di rifrazione, in cristallo di germanio, posta a contatto con il campione. Grazie a questa tecnica non è necessaria la preparazione del campione, ed è possibile ottenere spettri FT-IR anche per composti che assorbono eccessivamente. È un metodo versatile e non distruttivo, particolarmente adatto per materiali soft, liquidi, polveri, gel, paste, gomme, polimeri, ma anche per vetri, opere d’arte, reperti archeologici, o campioni provenienti da ambito forense. La tecnica è ottima anche per l’individuazione di contaminazioni in processi di produzione. L’uso del Detector raffreddato ad azoto liquido permette di aumentarne notevolmente la sensibilità.

 

Modalità ReTransFlection

Tecnica adatta a campioni sottili o di materiali soft o che possano essere disposti su un supporto riflettente. Dopo il trasferimento sul supporto i campioni devono presentare uno spessore tale da permettere l’attraversamento e la riflessione del fascio luminoso. Tecnica adatta a liquidi, gel o film.